用這個(gè)方法使用PCT高壓老化試驗箱，簡(jiǎn)單易懂 

　　PCT高壓老化試驗箱是縮短產(chǎn)品或系統的壽命試驗時(shí)間等性能測試必*儀器。它主要用于測試產(chǎn)品的耐高溫、高濕、高壓之性能；可以加速暴露產(chǎn)品在研發(fā)、生產(chǎn)過(guò)程中的不良或缺陷，以便更好的完善產(chǎn)品之各項性能指標。

　　該試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會(huì )沿者膠體或膠體與導線(xiàn)架之接口滲入封裝體，常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線(xiàn)路板，多層線(xiàn)路板、IC、LCD、磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測，測試其制品的耐壓性，氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力（如：溫度）與工作應力，加快試驗過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統的壽命試驗時(shí)間。

　　PCT高壓老化試驗箱的使用方法：

　　1、將物品放入箱內。關(guān)好箱門(mén)后接通電源。

　　2、試料準備：將試品逐一編號后，用試品夾鉤掛于試品轉盤(pán)上，以相互不接觸碰撞為宜。

　　3、待一切準備就緒，即關(guān)上箱門(mén)。

　　4、將電源插頭插上，開(kāi)啟電源開(kāi)關(guān)，及加熱開(kāi)關(guān)，此時(shí)鼓風(fēng)機同時(shí)開(kāi)始工作。

　　5、把電源開(kāi)關(guān)撥至“開(kāi)”，此時(shí)電源指示燈亮，數顯控溫儀有數字顯示。

　　6、控溫儀設定。控溫儀顯示箱內有溫度，一般情況下。加熱溫度到后過(guò)一段時(shí)間進(jìn)入恒溫狀態(tài)。

　　7、當所需工作溫度較低時(shí)，可采用二次設定方法，如需工作溫度80℃時(shí)，第一次可設定70℃，等溫度過(guò)沖回落時(shí)，在第二次設定80℃，這樣可降低甚至杜絕溫度過(guò)沖現象，使箱內溫度盡快進(jìn)入恒溫狀態(tài)。

　　8、開(kāi)啟轉盤(pán)開(kāi)關(guān)，使試樣以10-16r/min速度在箱內均勻旋轉。

　　9、根據不同的物品，不同的濕度程度，選擇不同的干燥溫度和時(shí)間。

　　10、結束后，把電源開(kāi)關(guān)撥至“關(guān)”處，但不能馬上打開(kāi)箱門(mén)取出物品，小心燙傷，可先打開(kāi)箱門(mén)降低箱內溫度再取出物品。